Об'єктив Tokina atx-m 33mm для Sony E (код: ATX-M33F)

TOKINA ATX-M 33MM F1.4

Tokina ATX-M 33mm F1.4 - це яскравий ширококутний об'єктив, який є ідеальним інструментом для аматорів, а також для просунутих фотографів. Дуже добре підійде також для вуличної, пейзажної фотографії та зйомки з близької відстані. Фіксована фокусна відстань, компактний, легкий дизайн ідеально вписується в форму сучасних бездзеркальних камер.

Об'єктив має кріплення Fujifilm X та Sony E.

БУДОВА ОПТИКИ

Будова оптики об'єктива базується на 10 лінзах, включаючи одну SD (з низькою дисперсією). Завдяки цьому об'єктив забезпечує зображення високої роздільної здатності по всьому полю зору, забезпечуючи високий контраст, низькі спотворення та хроматичні аберації. Високоякісні антивідблискові покриття гарантують природне відтворення кольорів. Використання великої передньої лінзи дозволило конструкторам досягти дуже малого віньєтування та пластичного розмиття фону.

СУЧАСНА СИСТЕМА AF

Tokina ATX-M 33mm F1.4 повністю сумісна з автофокусом марок Fuji X та Sony E, забезпечуючи відмінну функціональність та зручність для фотографа. Об'єктив підтримує всі режими роботи системи AF.

СУМІСНІСТЬ З СИСТЕМОЮ СТАБІЛІЗАЦІЇ

Завдяки повній сумісності протоколів передачі даних, об'єктив Tokina ATX-M 33mm F1.4 X здатний максимально використовувати 5-осеву стабілізацію зображення в камерах марки Fuji X, забезпечуючи можливість оптимального зменшення вібрацій, а отже, даючи можливість вільно фотографувати з довгими витримками.

КЛЮЧОВІ ОСОБЛИВОСТІ ОБ'ЄКТИВА

• Надзвичайно компактний і легкий дизайн, ідеальне поєднання з бездзеркальними камерами з матрицею APS-C.

• З кріпленням Fujifilm X та Sony E.

• Гладкий боке, що забезпечує круглі світлові точки поза зоною різкості завдяки діафрагмі F1.4.

• Чудова роздільна здатність від кута до кута завдяки 10 лінзам, включаючи одну зі скла типу SD.

• Тихе, швидке та точне фокусування, реалізоване за допомогою двигуна типу ST-M.

• Плавне та точне ручне фокусування завдяки металевому корпусу та високоякісним мастильним матеріалам.